藍色氧化鎢TEM照片
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,縮寫TEM),簡稱透射電鏡,是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而産生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關,因此可以形成明暗不同的影像。通常用于觀察顆粒的形貌、分散情况及測量和評估顆粒的粒徑。
通過觀察藍色氧化鎢的TEM照片,可以估計藍色氧化鎢尤其是納米藍色氧化鎢的粒徑大小和分散情况。
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,縮寫TEM),簡稱透射電鏡,是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而産生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關,因此可以形成明暗不同的影像。通常用于觀察顆粒的形貌、分散情况及測量和評估顆粒的粒徑。
通過觀察藍色氧化鎢的TEM照片,可以估計藍色氧化鎢尤其是納米藍色氧化鎢的粒徑大小和分散情况。