Thiết bị kiểm tra oxit vonfram màu xanh

Thiết bị kiểm tra oxit vonfram xanh theo các phương pháp thử nghiệm khác nhau bao gồm nhiễu xạ tia X, kính hiển vi điện tử quét, quang phổ quang điện tử, máy phân tích năng lượng điện tử, kính hiển vi điện tử truyền qua. Nhiễu xạ tia X đang sử dụng tia X để nghiên cứu cấu trúc vi mô bên trong của vật liệu, được sử dụng rộng rãi trong các trường đại học lớn, viện nghiên cứu và nhà máy và hầm mỏ. Cấu trúc cơ bản của nó bao gồm nguồn tia X có độ ổn định cao, hệ thống cơ chế điều chỉnh định hướng vị trí mẫu và mẫu, máy dò tia và hệ thống phân tích xử lý mẫu nhiễu xạ. SEM được phát minh vào năm 1965 để nghiên cứu tế bào học hiện đại, chủ yếu sử dụng hình ảnh tín hiệu điện tử thứ cấp để quan sát hình thái bề mặt của mẫu sử dụng chùm tia điện tử hẹp để quét mẫu bằng tương tác chùm tia điện tử với mẫu, chủ yếu là phát xạ electron thứ cấp.

Máy quang phổ quang điện tử bao gồm sáu phần: nguồn kích thích, buồng ion hóa mẫu, máy phân tích năng lượng điện tử, máy dò điện tử, hệ thống chân không và hệ thống xử lý dữ liệu. Nguồn bức xạ cực tím và nguồn tia X thường được sử dụng. Việc sử dụng nguồn bức xạ cực tím làm nguồn kích thích được gọi là quang phổ quang điện tử cực tím, việc sử dụng tia X được gọi là quang phổ quang điện tử tia X, gọi chung là quang phổ quang điện tử.

Máy phân tích năng lượng điện tử: vai trò là đo sự phân bố năng lượng phát ra từ bề mặt mẫu, phổ quang điện tử là một dòng điện tử so với động năng của bản đồ.

Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM), cấu trúc vi mô không thể nhìn thấy trong kính hiển vi quang học rõ ràng trong TEM. Các cấu trúc này được gọi là cấu trúc vi mô hoặc cơ sở hạ tầng siêu âm. Để xem các cấu trúc này, bạn phải chọn nguồn sáng có bước sóng ngắn hơn để cải thiện độ phân giải của kính hiển vi. Năm 1932, Ruska đã phát minh ra chùm electron là nguồn sáng của kính hiển vi điện tử truyền qua, bước sóng của chùm electron ngắn hơn nhiều so với ánh sáng nhìn thấy và tia cực tím, và bước sóng của chùm electron và điện áp phát ra của chùm electron tỷ lệ nghịch với căn bậc hai, rằng điện áp càng cao thì bước sóng càng ngắn. Hiện tại độ phân giải của TEM có thể đạt 0,2nm.