藍色氧化鎢TEM照片
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而産生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。通常用于觀察顆粒的形貌、分散情况及測量和評估顆粒的粒徑。
通過觀察藍色氧化鎢的TEM照片，可以估計藍色氧化鎢尤其是納米藍色氧化鎢的粒徑大小和分散情况。
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透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而産生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。通常用于觀察顆粒的形貌、分散情况及測量和評估顆粒的粒徑。
通過觀察藍色氧化鎢的TEM照片，可以估計藍色氧化鎢尤其是納米藍色氧化鎢的粒徑大小和分散情况。